Ferde implantátumokról történő lenyomatvétel

Egy új módszer

Az alábbi esettel egy új módszert mutatunk be, amely segítségével ferde, egymás felé dőlő implantátumokról is tudunk lenyomatot venni. Részleges vagy teljes foghiány esetén az implantátumok alkalmazása mindennapossá vált. A sebészi és protetikai lehetőségek fejlődésének köszönhetően funkcionálisan és esztétikailag is megfelelő eredményt érhetünk el az esetek többségében. Időnként azonban az implantátumok nem megfelelő szögben kerülnek behelyezésre, vagy túl közel kerülnek egymáshoz, esetleg egy saját foghoz. Annak ellenére, hogy ritkán szembesülünk ilyenfajta nehézségekkel, a lenyomatvétel kivitelezése komoly fejtörést okozhat. Az alábbi esetbemutatás során egy ilyen szituációkhoz kifejlesztett lenyomatvételi technikát ismertetünk.

Esetbemutatás 

Egy 60 éves férfi kereste fel a rendelőnket fogpótlás készítés céljából. Két hónappal ezelőtt egy másik rendelőben két implantátumot kapott a 4.5 ,4.6-os fogaknak megfelelő helyre (1. ábra). Az előző fogorvos információi alapján – sebészi sablont nem használtak az implantátumok behelyezésekor. Az 5-ös fog helyére kerülő implantátumot nem megfelelő szögben helyezték be. Az implantátumok állása miatt két lenyomatvételi elemet egyszerre nem lehet behelyezni, ezért lehetetlen lenyomatot venni (2. ábra). Mivel az implantátum közel helyezkedett el az idegcsatornához, annak eltávolítása nem jött szóba.

A problémát a következő eljárással oldottuk meg:

A 4.6-os helyzetű implantátum kissé mesialis irányba dőlt, ezért egy előzőleg módosított lenyomatvételi elemet egy lenyomatvételi sapkával együtt be tudtunk helyezni (3. ábra). Számos, módosított szögkorrekciós felépítményt kipróbáltunk a 4.5-ös fog helyén. Egy 25°-os szögkorrekciós felépítményt választottunk, mivel az kb. párhuzamos volt a másik implantátum lenyomatvételi fejével (3–4. ábra).

A kiválasztott felépítményt beszkenneltük, és CAD/CAM módszerrel egy lenyomatvételi sapkát készítettünk nem nemesfémből (kobalt-króm ötvözet, Zenotec NP, WielandDental) (5. ábra). A lenyomatvételi sapkát bevontuk egy vékony réteg rezinnel (PATTERN RESIN, GC), és kis gömbretenciókat helyeztünk fel rá koronálisan, lingualisan és labiálisan (6. ábra).

A lenyomatvételi fejet a lenyomatvételi sapkával felcsavaroztuk a distalis implantátumra. A 25°-os szögkorrekciós fej a lenyomatvételi sapkával a mesialis implantátumon úgy funkcionált, mint egy lenyomatvételi elem (7. ábra).

A lenyomatot poliéter lenyomatanyaggal vettük (Impregnum, 3M ESPE) (8. ábra). Két egyéni fejet és két fémkerámia koronát készítettünk (9–10. ábra). A felépítmények egy egyéni kulcs alapján a helyükre kerültek, majd 35 Ncm-rel meghúztuk azokat (11. ábra). Ezután ideiglenes cementtel beragasztottuk őket (12–13. ábra).

Konkluzió

A fent leírt eljárás segítségével sikeres restaurációkat készíthetünk kedvezőtlen pozíciójú implantátumok esetén is. Gondos tervezéssel meg tudjuk előzni az ilyen jellegű problémákat, ideális helyzetű implantátumok esetén elkerülhetjük ezeket a nehézségeket.

Prof. dr. Gregory-George Zafiropoulos, prof. dr. Oliver Hoffmann (Németország)
Forrás: Dental Press